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CISC半导体公司推出RFID标签测量评估测试系统

2022-04-28 来源:义乌市农业机械网

CISC半导体公司推出RFID 标签测量评估测试系统

CISC公司的 RFID MeETS (Measurement and evaluation Test System-RFID测量评估测试系统) ,可以用于支持RFID芯片制造商、RFID项目领导人、实验室或者终端用户。因为通过它人们可以取得特定芯片的特性数据、评估标签的性能。MeETS软件库的基础是NI(National Instruments)公司的 LabVIEW软件和PXI硬件。

CISC公司有丰富的RFID工程知识,欧洲的EPC兼容性测试中心就是利用CISC公司的工程知识进行RFID 芯片的测试试验。National Instruments 公司则要求CISC利用该公司的RFID 测量技术知识设计一个RFID芯片性能测试软件包,同时容许利用该公司的LabVIEW软件。

National Instruments 公司的射频与通信部门经理Sean Thompson 说:“ 很高兴能够与CISC半导体公司合作。CISC 已经使用我们的测量工具软件有很长时间,他们在射频领域有丰富的工程经验。CISC的软件库必定会使现有的NI 测量工具软件增色许多。”

关于RFID 芯片的测量技术

到2010年全球的RFID芯片的总量会达到330亿片,RFID 业每年以指数速度成长,而且还会继续增长。现在RFID芯片品种不少,设计和制造商也有好多家。RFID的用途和应用场合会不断增加。一些物质如金属、液体、塑料,它们有些会吸收、有些会反射电磁波、有些会使电磁波失谐。

为使RFID芯片得到最佳读取率下列三个重要原则必须遵守:

选择合适的芯片类型;

确定芯片在物体上面固定的位置和方向;

RFID的安装,例如安装在通道口,必须配合良好。

上述三个问题中的两个CISC公司的 RFID MeETS可以很好回答。测量系统可以准确确定RFID芯片的最佳方向,可以对不同工作频率的RFID芯片进行评估(对于需要在全球开放式系统工作的芯片尤其重要),可以测定不同芯片的读取距离。

MeETS 的安装类别

CISC公司的 RFID MeETS有三种不同的配置,第一种是LabVIEW软件使用的CISC RFID MeETS 软件包;第二种是配置CISC RFID MeETS 的NI PXI 硬件;实验室、研究机构和测试中心则推荐采用完整的软件硬件系统进行安装。

RFID 芯片的ISO 与EPCglobalTM 标准

CISC RFID MeETS的开发是根据ISO最新确认的标准以及EPCglobalTM 推荐的标准进行。

CISC半导体公司的CTO,ISO的RFID器件性能与兼容性测试组召集人 DI Josef Preishuber-Pfl?gl 说:“我们公司不但参与ISO 标准化工作,也是EPCglobalTM的重要成员。我们清楚知道RFID的瓶颈所在,也知道如何去解决它们。欧洲的EPC兼容性测试中心完全依靠CISC 的RFID 工程知识进行工作,现在我们非常高兴可以为所有RFID用户提供RFID测量测试系统。”

CISC的研发部经理,EPCglobal TLRPP 小组的领导人Dr. Vojtech Derbek说:“一种RFID芯片如果要在全球范围使用,重要的一点是不要忘记这种芯片的所有工作频率和不同国家的不同无线电管制条例。”

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